Halbleiter-Test

Comptest MX ist die Bezeichnung der SPEA Mixed-Signal IC-Tester-Familie. Mit diesen Systemen werden parametrische und funktionelle Tests an analogen, digitalen oder mixed-signal IC’s durchgeführt, wobei der gleichzeitige Test (Multisite Test) von IC’s möglich ist.

Mögliche Applikationen sind:

  • Smart cards
  • Contactless Smart cards
  • MEMS
  • LCD controllers & driver
  • Multimedia
  • Car immobilizer
  • DECT
  • Telephone
  • Fiber optics driver/amps
  • TV & VCR tuners
  • DAC & ADC
  • Mikrocontroller
  • Automotive
  • Lineare IC’s
  • Sensoren
  • Transducers
  • Hybride

COMPTEST MX Halbleiter Testsystem