Halbleiter-Test
Comptest MX ist die Bezeichnung der SPEA Mixed-Signal IC-Tester-Familie. Mit diesen Systemen werden parametrische und funktionelle Tests an analogen, digitalen oder mixed-signal IC’s durchgeführt, wobei der gleichzeitige Test (Multisite Test) von IC’s möglich ist.
Mögliche Applikationen sind
- Smart cards
- Contactless Smart cards
- MEMS
- LCD controllers & driver
- Multimedia
- Car immobilizer
- DECT
- Telephone
- Fiber optics driver/amps
- TV & VCR tuners
- DAC & ADC
- Mikrocontroller
- Automotive
- Lineare IC’s
- Sensoren
- Transducers
- Hybride
Halbleiter-Test
H 350 Halbleiter Testsystem
Halbleiterprüfung, Messung, Elektronik
Smart cards, Contactless, MEMS, LCD, controllers, driver, Multimedia, Car, immobilizer, DECT, Telephone, Fiber, optics, driver/amps, TV & VCR tuners, DAC & ADC, Mikrocontroller, Automotive
Optische, automotive, Tests, Halbleiter
Lineare, IC’s, Sensoren, Transducers, Hybride, Comptest MX, SPEA Mixed-Signal IC-Tester
Halbleiter: parametrische und funktionelle Tests an analogen, digitalen oder mixed-signal IC’s, SPEA
Halbleiter-Test, parametrische, funktionelle